株式会社ユニセイキ

・精密検査用定盤と併用し、光隙法、ゲージブロック法、ダイヤルゲージ法等の直角度比較測定に使用されます。
・硬度　HS60°以上

直角度　±（ 2 + L/ 200 ) ㎛
L：呼寸法( 高さ)